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    PT150HOLED屏超薄件測厚儀

    OLED屏超薄件測厚儀(yi) 是一款超小型、無需聲耦合劑、非接觸式厚度測量的儀(yi) 器,可實現對金屬或導磁性材料的母材厚度與(yu) 表麵塗層厚度的測量,匯集了超聲波探傷(shang) 、測厚、計算機、電子、模具、工藝等現代高新技術,實現了這些高新技術的結合。為(wei) 業(ye) 界提供了性能更加優(you) 秀,功能更加強大的探傷(shang) 測厚一體(ti) 機器。可以廣泛應用於(yu) 石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各個(ge) 領域。

    更新時間:2024-12-03型號:PT150H瀏覽量:312
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